Hotel ibis Warszawa Centrum
al. Solidarności 165, Warszawa
Zapraszamy na kolejne spotkanie z cyklu jubileuszowych warsztatów technicznych EC TEST Systems, które odbędzie się w Warszawie. Tematem najbliższych warsztatów będzie kalibracja czujników drgań i mikrofonów pomiarowych.
Jeśli w swojej pracy dokonujesz pomiarów czujnikami drgań, wykorzystujesz mikrofony pomiarowe lub prowadzisz testy diagnostyczne, te warsztaty są właśnie dla Ciebie. Kalibracja to nie tylko wymóg normatywny – to przede wszystkim gwarancja wiarygodności danych, powtarzalności wyników i bezpieczeństwa procesów pomiarowych.
Podczas spotkania odpowiemy na kluczowe pytania: dlaczego i kiedy kalibrować? Jakie są konsekwencje braku kalibracji? Jakie rozwiązania oferuje dziś technologia?
W trakcie spotkania zaprezentujemy działanie profesjonalnej stacji kalibracyjnej 9155D firmy The Modal Shop, a także pokażemy proces kalibracji akcelerometrów, czujników udarowych oraz mikrofonów pomiarowych. Uczestnicy będą mieli okazję zapoznać się z przenośnymi kalibratorami drgań – zarówno dla wysokich, jak i niskich częstotliwości – oraz z nowym oprogramowaniem, dotychczas zarezerwowanym dla zaawansowanych stacji kalibracyjnych.
- dowiesz się, dlaczego regularna kalibracja czujników jest kluczowa dla dokładnych pomiarów
- poznasz zasady działania profesjonalnej stacji kalibracyjnej 9155D
- zobaczysz, jak w praktyce kalibrować akcelerometry, czujniki udarowe i mikrofony pomiarowe
- zapoznasz się z możliwościami przenośnych kalibratorów drgań oraz nowego oprogramowania
- weźmiesz udział w warsztatach praktycznych, podczas których będzie możliwość sprawdzenia własnego przetwornika
Powitanie gości
- – Kalibracja akcelerometrów udarowych
- – Kalibracja mikrofonów
- – Przenośne kalibratory drgań do wysokich i niskich częstotliwości oraz nowe oprogramowanie
- Alexandra Andrejkova [PCB Piezotronics]
- Philippe de Cordemoy [PCB Piezotronics]
- Luc Migeon [The Modal Shop]
- Jakub Żak [EC TEST Systems]
- Ireneusz Mosek [EC TEST Systems]
w warsztatach
angielskim i polskim
dla uczestników
