Hotel ibis Styles Warszawa City
Czy klasyczne metody pomiarowe pozwalają dokładnie analizować bardzo szybkie zjawiska dynamiczne występujące w badaniach i testach technicznych? W wielu przypadkach kluczowe znaczenie ma możliwość dokładnej rejestracji i analizy zjawisk dynamicznych, które trwają zaledwie ułamki sekundy.
Współczesne badania eksperymentalne coraz częściej wymagają narzędzi, takich jak szybkie kamery, które pozwalają rejestrować przebieg zjawisk szybkozmiennych z bardzo dużą dokładnością czasową i przestrzenną. Dzięki temu możliwa jest szczegółowa analiza obrazu, która pozwala zrozumieć mechanizmy zachodzące w badanym obiekcie oraz poprawnie interpretować wyniki pomiarów.
Kamery szybkie i dedykowane oprogramowanie pozwalają na bardzo precyzyjne pomiary przemieszczeń, prędkości i przyspieszeń, zarówno liniowych jak i kątowych. Rozwiązania te znajdują szerokie zastosowanie w przemyśle motoryzacyjnym, wojskowym, lotnictwie, elektronice, energetyce oraz medycynie.
- jakie możliwości oferują nowoczesne kamery szybkie w rejestracji zjawisk dynamicznych
- w jaki sposób analizować przemieszczenia, prędkości i przyspieszenia na podstawie obrazu
- jakie technologie wykorzystywane są w zaawansowanych badaniach eksperymentalnych
- jak oprogramowanie do analizy obrazu wspiera proces pomiarowy i interpretację wyników
Powitanie gości
Vision Research / Ametek
-
aktualne portfolio kamer szybkich Vision Research
-
typowe i nietypowe zastosowania (DIC, PIV, Schlieren, UV, systemy airborne)
-
sesja pytań i odpowiedzi dotyczących kamer szybkich Phantom
Image Systems
-
nowe pakiety oprogramowania dla różnych branż przemysłu
-
model licencjonowania oraz wsparcie dla użytkowników
-
przykłady typowych zastosowań w różnych sektorach
-
systemy sprzętowe integrujące produkty Image Systems
-
nowe funkcjonalności oraz plany rozwoju na rok 2026
-
demonstracja oprogramowania
-
sesja pytań i odpowiedzi dotyczących oprogramowania
Konsultacje z ekspertami Vision Research, Image Systems oraz EC TEST Systems
Podsumowanie i zakończenie warsztatów
- Fabio Di Lorenzo [Vision Research]
- Thomas ESTRUCH [Image Systems]
- Jakub Żak [EC TEST Systems]
- Piotr Gawęcki [EC TEST Systems]
- Radosław Pilarski [EC TEST Systems]
w warsztatach
angielskim i polskim
dla uczestników
